LH6216 Sistema de teste de envelhecimento dinâmico para circuitos integrados (CI)

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WebSite: http://testchamber-br.com/12-4-integrated-circuit-ic-dynamic-aging-test-system.html

Soluções combinadas de testes ambientais para testar baterias

O sistema de teste de envelhecimento dinâmico de circuitos integrados foi desenvolvido especificamente para avaliar a confiabilidade dos chips IC enquanto operam em condições reais de trabalho. Ele recria fatores de estresse combinados, como temperaturas flutuantes, tensões variáveis e frequências diversas, para refletir cenários de uso reais. Ao longo de ciclos de teste prolongados, esta câmara ambiental registra tendências de desempenho e identifica pontos de falha potenciais que podem surgir ao longo do tempo.

Essa abordagem de teste tornou-se essencial, pois os circuitos integrados são agora componentes críticos em áreas que vão desde eletrônicos de consumo e eletrônicos automotivos até telecomunicações, automação industrial e aeroespacial. À medida que as expectativas de desempenho e vida útil continuam a aumentar, avaliações completas de confiabilidade tornaram-se uma parte fundamental para garantir a qualidade e a segurança consistentes do produto.

Recursos

Capaz de testar em toda a faixa de amplitude de tensão com uma taxa máxima de até 33 MHz, atendendo a exigentes requisitos de verificação de desempenho.
Equipado com um osciloscópio integrado que oferece amostragem de forma de onda de alta velocidade e alta precisão, ajudando os engenheiros a capturar variações sutis de sinal durante testes de envelhecimento dinâmico.
Suporta configurações de padrão baseadas em microinstruções com formatos flexíveis e profundidade expansível, permitindo que cenários de teste complexos sejam criados e ajustados com eficiência.
Utiliza uma arquitetura de software baseada em banco de dados que armazena todos os dados com segurança, garantindo que não haja perda de registros de teste, mesmo em caso de interrupções de energia.

Vantagens

Simulação confiável de condições operacionais reais
O sistema de teste de envelhecimento dinâmico de circuitos integrados recria cenários de trabalho autênticos para chips IC, considerando fatores dinâmicos, como frequências de clock variáveis e sinais de entrada/saída em mudança durante a operação.
Ao controlar com precisão a temperatura e a tensão durante todo o processo, essa configuração acelera o envelhecimento natural dos componentes, tornando possível observar os efeitos da degradação a longo prazo em um período de tempo mais curto.
Detecção abrangente de falhas
Enquanto os chips operam em condições dinâmicas, o equipamento monitora continuamente parâmetros como consumo de energia, integridade do sinal e ruído elétrico. Essa capacidade ajuda a detectar problemas intermitentes que muitas vezes permanecem ocultos em testes estáticos convencionais.
Ele também identifica possíveis falhas causadas por ciclos térmicos repetidos, como contatos soltos ou fadiga da solda, permitindo que os fabricantes detectem os problemas antecipadamente e melhorem a confiabilidade do produto antes da implantação.
Controle e monitoramento ambiental preciso
A câmara integra sistemas avançados para manter temperatura, umidade e tensão estáveis, enquanto sensores embutidos fornecem feedback contínuo e registram dados detalhados ao longo de cada teste.
Esses recursos permitem a criação de perfis de envelhecimento abrangentes, apoiando o refinamento do projeto e melhorias na fabricação. Por exemplo, a análise do desempenho de vários lotes em condições idênticas pode revelar inconsistências ou pontos fracos nos processos de produção.
Configurações de teste flexíveis
O sistema de teste de envelhecimento pode ser personalizado para se adequar a diferentes tecnologias de chip, áreas de aplicação ou nós de processo. Os parâmetros de teste, incluindo níveis de tensão, faixas de frequência e durações de ciclo, podem ser adaptados para atender a requisitos específicos.
Vários chips podem ser testados simultaneamente, otimizando os fluxos de trabalho e reduzindo custos. Isso torna nossa câmara de teste de envelhecimento adequada para ambientes de produção em grande escala, como eletrônicos de consumo, eletrônicos automotivos e equipamentos de telecomunicações.

Parâmetros técnicos

Sistema de teste	Tipo de sistema	Sistema de teste de envelhecimento dinâmico de circuitos integrados IC
	Modelo	LH6216
	Padrão	MIL-STD-883D, MIL-M-38510, GJB548, GJB597
	Dimensões	L130cm×P140cm×A195cm
	Fonte de alimentação	AC380V±5%, 50Hz
	Potência	≤21kW
Câmara de teste de temperatura	Faixa de temperatura	(temperatura ambiente 20)℃~ 150℃
Câmara de teste de temperatura	Desvio/flutuação de temperatura	150℃±2.0℃(sem carga)/±0.5℃
Fonte de alimentação CC de teste	Canais	Cada canal fornece 4 fontes de alimentação. Vcc: Fonte de alimentação de operação do chip Vmux: Fonte de alimentação de carga Vclk: Fonte de alimentação de ajuste de amplitude de sinal Vee: Fonte de alimentação de tensão operacional negativa
	Faixa de tensão	0~18V
	Faixa de corrente	0~10A
	Potência máxima	100W
Sinal digital	Número de canais	Cada driver e módulo de medição fornece 64 sinais digitais de alta frequência independentes, com cada sinal sendo emitido independentemente no modo tri-state
	Configuração programável do comprimento do passo	30ns~0.4s
	Profundidade programável	8Mbit