Série PC3X Sistema de teste de ciclagem de potência para IGBT
Câmara ambiental para avaliar a confiabilidade de semicondutores de potência
O sistema de teste de ciclagem de potência para IGBT foi desenvolvido para atender aos rigorosos requisitos de confiabilidade para dispositivos semicondutores de energia usados em áreas como veículos elétricos, sistemas de energia renovável e acionamentos industriais. Ele simula ciclos de ligar/desligar reais de IGBTs, expondo os componentes a repetidas flutuações de energia e temperatura. Durante os testes, ele monitora continuamente parâmetros importantes, como queda de tensão de condução, perdas de comutação e variações de temperatura de junção. Ao mesmo tempo, ele avalia possíveis problemas mecânicos, como fadiga da camada de solda entre o chip e o pacote. Ao combinar o controle preciso do estresse térmico e elétrico com medições detalhadas, este equipamento ajuda os fabricantes a avaliar a vida útil, otimizar projetos e confirmar que os dispositivos IGBT mantêm desempenho e confiabilidade estáveis em condições de trabalho exigentes.
- Inclui uma função de comutação automática de polaridade, permitindo testes de polarização reversa bidirecionais em dispositivos IGBT de matriz dupla.
- Equipado com um banco de dados SQ Lite que registra dados em tempo real e gera gráficos de tendências atuais, facilitando o acompanhamento dos resultados e a análise do desempenho.
- Suporta testes de envelhecimento para IGBTs de ponte dupla, oferecendo envelhecimento independente dos braços superior e inferior da ponte, bem como modos combinados de envelhecimento em série.
- O software possui uma biblioteca de dispositivos configurável que permite aos usuários selecionar parâmetros predefinidos para cada teste, reduzindo a necessidade de reinserir dados para componentes semelhantes.
- Simulação precisa de ciclo de energia
A configuração do teste de ciclo de energia IGBT gerencia com precisão parâmetros-chave, como formas de onda de corrente e tensão durante a ativação e desativação, juntamente com a frequência do ciclo. Isso torna as condições de teste altamente consistentes com a forma como os componentes operam em aplicações reais. - Monitoramento e controle de temperatura de alta precisão
Equipado com sensores de temperatura sensíveis para rastrear as flutuações de temperatura do chip em tempo real. Esta câmara ambiental inclui uma unidade de resfriamento confiável que pode replicar diversos ambientes de dissipação térmica.
Com gerenciamento preciso da temperatura, a configuração ajuda a analisar como o desempenho do IGBT muda em diferentes faixas de temperatura. Ela também replica variações térmicas semelhantes ao uso real, tornando possível identificar problemas de fadiga térmica precoces. - Avaliação abrangente do desempenho
Juntamente com os dados de temperatura e ciclos de energia, o equipamento de teste monitora simultaneamente métricas de desempenho importantes, como queda de tensão no estado ligado, perdas de energia de comutação e dv/dt (taxa de aumento de tensão).
A análise combinada desses parâmetros permite uma avaliação completa de como as características elétricas e térmicas do IGBT se degradam ao longo do tempo.
| Sistema de teste | Tipo de sistma | IGBT power cycling test system |
| Modelo | PC3X | |
| Padrão | JESD51-1 | |
| Dimensões | Gabinete de controle: 160 cm (L) × 150 cm (P) × 1850 cm (A); | |
| Câmara de teste: 101 cm (L) × 137 cm (P) × 150 cm (A) | ||
| Requisitos de potência | Gabinete de controle: CA 380 V/50 Hz Câmara de teste: CA 220 V/50 Hz | |
| Potência | Potência Gabinete de controle: 15 kW Câmara de teste: 5 kW | |
| Fonte de alimentação de teste | Número de fontes de alimentação | 3 unidade |
| Faixa de tensão | 0~20V | |
| Precisão da tensão | ±1%±5 dígitos | |
| Faixa de corrente | 1~2000A | |
| Precisão da fonte de corrente constante | ±1% | |
| Potência máxima | 40kW | |
| Tensão de controle do portão | -10.00V~ 20.00V | |
| Precisão da fonte de alimentação do portão | ±1%±5 dígitos | |
| Tempo de teste | Tempo de envelhecimento | 0-9999h |
| Tempo de conexão | 1-9999s | |
| Tempo de desconexão | 1-9999s | |
| Ciclo de teste | 1-999999 ciclos | |
| Controle de temperatura | Temperatura ambiente ~105 ℃ Precisão: ±1% Estabilidade: ±3℃ | |
